- Об институте
- Инновации
- Структура
- Отдел "Архитектуры вычислительных систем"
- Отдел "Информационных систем"
- Отдел "Компиляторных технологий"
- Отдел "Системного программирования"
- Отдел "Системной интеграции и прикладных программных комплексов"
- Отдел "Теоретической информатики"
- Отдел "Технологий программирования"
- Ученый совет
- Диссертационный совет
- Центр верификации ОС Linux
- Исследовательский центр доверенного искусственного интеллекта
- Центр компетенции по параллельным и распределенным вычислениям
- Образование
- Издания
- Новости
- Лицензии
- Об издании
- Редколлегия
- Рецензирование
- Политика издательства
- Для авторов
- Последние выпуски
- Текущий выпуск
- Выпуск в подготовке
- Контакты
Новости
15 Марта, 2024
Сегодня стартовали выборы Президента России
Паттерны проектирования тестовых сценариев.
В.С. Мутилин.
Аннотация
Рассматриваются вопросы использования типовых решений (паттернов проектирования) для построения тестовых программ, основанных на обобщенных моделях тестируемых систем в форме неявно заданных конечных автоматов. В качестве базовой технологии применяется технология UniTesK.
Издание
Труды Института системного программирования РАН, том 9, 2006, стр. 97-128.
ISSN 2220-6426 (Online), ISSN 2079-8156 (Print).
Для цитирования
В.С. Мутилин. Паттерны проектирования тестовых сценариев. . Труды Института системного программирования РАН, том 9, 2006, стр. 97-128. .
Полный текст статьи в формате pdf Вернуться к содержанию тома